我が社は、顧客のために100V時 90度回転する1MHｚの反復値で100nsパルス幅の能力を持ったEO変調に基づくPLZTを製造しています。 モジュレーターは、無反射コーティング/パッシベーション層を含むことができます。 さらに顧客向けにEO変調に基づいた特注のPLZTを製造しています。

Radiant Technologiesは、1.5μmのサイズまでを支援できる低コストな、強誘電体集積素子の製造フローを開発しています。 下部電極、強誘電体材料、上部電極層、製造工程での検査、中間誘電層(ILD)、ILD　Vias、金属配線層を研究しています。ラジアント社は、プロセス・フローを改善するためにたゆまず働いています。

この製造フローで作製された強誘電体サンプルを数種類、市販しております。詳しくは強誘電体テストサンプルの項目をご覧ください。

強誘電体チップ1個が4本のリード線（足）のあるTO-18キャップの中にパッケージングされています。 リード線の1本はケースに接続されていてGND（グランド）或いはケースと記されています。 コモン（Common）と言う所は、強誘電体素子Cap A とCap Bが共通で結線されている所です。
Pin 1: Common　/　Pin 2: Cap A　/　Pin 3: Cap B　/　Pin 4: Caseに直結




使用温度範囲：-55〜125℃
型式：RC2-AAA
キャパシターサイズ：（ペイントにて区別）

青	100,000μ2
オレンジ	40,000μ2
白	10,000μ2
黄	4,000μ2
黒	1,000μ2
赤	400μ2
緑	100μ2

回復手順：
白金電極はFatigueやImprintから回復します。各キャパシターは飽和電圧でテストされていますが、 受領された時にはすでにImprintの状態である場合があります。 また、常温にてご使用の後にImprintが発生する場合があります。 このImprintの状態からほぼ完全にリカバリーさせる方法があります。 このリカバリープロセスでFatigue lossも60〜80％ほどは回復できます。 この回復処置はダメージを残さずに何度も実施できます（限度は使用の状況にも拠ります）。 回復手順は室温にて±9Vのスクエアウェーブ、1Ｈz、100秒の印加をお願いします。

強誘電体テストサンプルの能力についてまとめた資料を準備しております。資料の閲覧には、Acrobat Reader が必要です。お持ちでない方は、Adobe（アドビ）社のホームページで無料配布されていますので、下記のリンク先から、説明に従ってダウンロードし、インストールを行ってください。

型式：LSCO-1001、2600Å 4/20/80 PNZT、最大付加電圧：±9Ｖ

米国 Radiant Technologies 社はランタンストロンチウムコバルタイト (LSCO)を電極に用いたFatigue FreeのPNZTキャパシターチップの販売を開始しました。

PNZTの厚みは260nmで、面積は100,000 μ�uと40,000 μ�uの2種類が提供可能です。
試料は従来の強誘電体テストサンプルと同様に、TO-18キャップの中にパッケージングされています。

9V、3kHzの三角波を使用して疲労試験を行いました。
通常の白金電極は10⁴回から徐々に残留分極値が低下し、10⁸回ではほぼ0になりますが、LSCO電極では分極値の低下はほとんど見られませんでした。

このキャパシターは、1MHzまでのヒステリシス応答性を有することから、LCR等での標準試料になりうる可能性があります。

仕様：常温でのみ使用ください。耐電圧は100V以下です。
（但し、ラジアント供給のキャパシターは最高12V程度の耐圧です）