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ピエゾ計測用強誘電体テストサンプル
米国ラジアント社は強誘電体およびピエゾ物質のリサーチで使用されるピエゾ応答力顕微鏡 (piezoresponse force microscopy (PFM))における爆発的関心に対するサポートの為の新製品を開発してきました。
ピエゾ計測用強誘電体テストサンプルはPFMのみならず、AFMを用いた試料応答観察の操作手順の練習や、新規計測の条件出し・確認用に有効と考えております。
ピエゾ計測用強誘電体テストサンプルの特徴
TO-18型のトランジスターパッケージヘッドに集積型の薄膜強誘電体フィルムキャパシターのダイを埋め込み、その覆い部分を取り除いた形の製品です。
強誘電体キャパシターからパッシベーション膜を除去し、上部電極を露出させて導電性カンチレバーで電圧印加が可能となっています。
お客様のご要望に応じて上部電極の内、何れか2つを選択し、底部からの2つのピンにワイヤーボンディング(導通)が可能です。
AFMカンチレバーに電流を通す事をせずに、このピンからピエゾ応答信号電圧を印加する事もできるので、大きな電流が要求される時でも導電性カンチレバー経由での無理な印加が避けられます。
ダイの下部電極上は全面に広がっているので、上部電極を外すと大面積の裸のPZT膜が存在します。これを利用すればナノスケールの分極やPZT粒子上での直接的な圧電測定も可能です。
AFMの試料台に取り付けた状態
試料に電圧を印加するためのリード線
ピエゾ計測用強誘電体テストサンプル上の強誘電体薄膜にカンチレバーを近づけているところ
AFMとラジアント社のテスターの連携でキャパシターの上部電極上から、IV測定、分極ヒステリシスループと同時測定のバタフライ変位信号ループ、微小信号キャパシタンス、微小変位等を測定する事が可能です。
以下の連続画面は、面積が2μmx2μmのキャパシターを使って、一晩かけてヒステリシス・フルループを描かせた時の各状態での分極強度とイメージ画像(位相マップ)の変化の様子を調査した結果です。
本新製品に関するご質問等がございましたら、
弊社
までご連絡いただければ幸いです。
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